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X線 CT 検査・計測
1997 年ドイツ、ウューンスドルフに設立された GE インスペクション テクノロジーズ Phoenix X-ray はナノ、マイクロ、およびミニフォーカス X線検査技術およびコンピューター断層撮影法方式検査技術のパイオニアです。
 
GE は X線管や X検出器、システム内で使用するソフトウェアコントロールおよびアルゴリズムなどを主要コンポーネントを独自開発、所有しています。長年にわたって数々のイノベーションを開発してきた当社は、「2016 グローバル・フロスト&サリバン・カンパニー・オブ・ザ・イヤー」を受賞し、さらに、「GE インスペクション テクノロジーズは、当社独自の高速ヘリカル Speed|scan システム、高速処理検査用スキャナー Phoenix V|tome|x C HS、散乱補正技術 (Scatter|correct technology) を採用した世界初の microCT システム、高精度測定用 Phoenix V|tome|x M スキャナーをはじめとする幅広いイノベーションの開発により、CT 業界全体に大きく貢献し、産業用コンピュータ断層撮影 (CT) システム市場をリードする企業となりました。」と評価されました。
 
GE システムズは世界各国のマイクロエレクトロニクス、材料科学、プラスチック射出成形、航空宇宙および自動車の不良解析、検査および計測産業の分野において使用されています。製品のラインナップは以下の通りです:
 
  • Nanotom M - 広範なサンプル領域に対応する科学・工業用コンピューター断層撮影・三次元測定用高解像度 nanoCT ® システム
  • V|tome|x S - 2D X 線検査および 3D CT (マイクロ CT およびナノ CT) 用、ならびに 3D 計測用高解像度システム
  • V|tome|x M - 最大 300kV/500W の 3D 計測・解析用多目的 X線マイクロフォーカス CT システム。計測バージョンでも購入可能です。Scatter|correct コーンビーム CT オプションも搭載可能です
  • V|tome|x C - 非破壊検査用および鋳物・宇宙航空用アプリケーションの品質検証に使用するコンパクト高性能ミニフォーカス 450kV CT システム。ファンビーム、コーンビーム、および Scatter|correct コーンビーム CT オプションも搭載可能です。
  • V|tome|x L - カスタマイズ可能大型高解像度 2D および 3D CT システム
  • Microme|x Neo / Nanome|x Neo – CT オプション付き 180kV/20W のマイクロフォーカス/180k/15W のナノフォーカス 2D システム
  • Speed|scan CT64 – 生産ラインで使用する自動高速 XCT